- 型号：FT160 Series
- 品名：X射線鍍層厚度量測儀 Desktop XRF
高端技術結合
• 多毛細管聚焦式X射線管（Polycapillary）與高計數率
矽飄移SDD檢測器的絕佳搭配
• 微米等級高解析度影像觀察系統
• 輕易應對各種產業需求
高優化操作介面
• 測量導航視窗
• 兼顧操作與安全的設計
高階技術結合
多毛細管聚焦式X射線管（Polycapillary）與日立專利高計數率矽飄移SDD檢測器的絕佳搭配。「30μmφ（FWHM：17μm）」有效提高兩倍以上分析靈敏度。
高優化操作介面
以圖示呈現測量方法、測量樣品照片、鍍層資訊，一目了然的操作介面。測量導航視窗，逐步引導操作者測量步驟。
安全防護設計
採用密封快殼，完全避免輻射危險
| 型號 | FT160S | FT160Sh | FT160 | FT160h | FT160L | FT160Lh |
|---|---|---|---|---|---|---|
| X光管 | 標準 | 高能量 | 標準 | 高能量 | 標準 | 高能量 |
| Mo靶 | W靶 | Mo靶 | W靶 | Mo靶 | W靶 | |
| 測定元素範圍 | 鋁（13Al）～鈾（92U） | |||||
| 樣品平台（mm) | 300（寬）＊245（深） | 420（寬）＊320（深） | 620（寬）＊620（深） | |||
| 可測量樣品尺寸（mm） | 300（X）＊245（Y）＊80（Z） | 400（X）＊300（Y）＊100（Z） | 600（X）＊600（Y）＊20（Z） | |||
| 分类 | 标题 | 日期 |
|---|
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