嘉富億 HITACHI EA1000VX

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•　分析時間精度管理

「Vortex SDD」多陰極矽半導體檢測器
•　 SEM-EDS（掃描式電子顯微鏡）所專用的訊號接收
　　檢測器
•　日立高新（Hitachi high-tech）專利
•　絕佳解析度、再現性與高靈敏度

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獨家專利的Vortex SDD多陰極矽半導體檢測器

Hitachi high-tech 日立高新獨家專利，使用最大1,000,000cps的超高計數率Vortex檢測器，實現高靈敏度、高精度、耗時短的三大優勢。相較於EA1000AⅢ，檢測時間縮短近40%，可提高每日測樣數量。

SEM-EDS（掃描式電子顯微鏡）所專用的訊號接收檢測器

實現高計數率、高解析度與小光圈高感度

分析結果由系統自動儲存並歸納，透過直觀簡易的介面，更可彙整出完整的有害物質分析總表，並由系統繪製個別供應商的有害物質趨勢分析圖表

內建多種材質資料庫，可依材質的背景值不同，由系統自動選定分析條件，減少人為因素所造成的誤判

依照圖譜與分析線的位置關係，協助操作者進行分析線自動切換的輔助功能

鍵入有害物質管制上下限值，可由系統自動精算標準偏差，精確停止多餘的分析時間

透過儀器的指示音提醒與進度指示燈來掌握測量的進度

具備形狀、厚度與材質等Hitachi high-tech science（日立高新）專利補正技術

1、3、5mm三種X光照射光徑，增加測試需求的彈性

透過12個樣品自動進樣器，以提高測試效率

多種語系（包含繁中/簡中/英文/日文/韓文）支援的操作介面，一個按鈕即可完成報告輸出，功能操作簡易，僅需三個步驟即可完成測試。

隨機配備「日本國家一級認證單位Jab」所認證的RoHS（Cd、Pb、Hg、Br、Cr）有害物質標準品與儀器硬體調校試片一組，可提供各國際大廠所要求的有害物質標準品，包含氯（Cl）、銻（Sb）、錫（Sn）、硫（S）、磷（P）等。

金屬電鍍膜厚量測分析

合金牌號鑑定

項目	規格
產地	日本
測定元素範圍	鋁（Al13）～鈾（U92）
樣品型態	固體、液體、粉末皆可
X射線源	管電壓： 15 kV、40 kV、50 kV（可調式）管電流：1mA（10～1000μA自動調整最適電流輸出）
X射線照射方向	下方垂直照射型
檢測器	Vortex SDD（Hitachi專利，多陰極矽半導體檢測器）
冷卻方式	電子冷卻（不需液態氮）
準直器（分析區域）	1、3、5 mmφ（自動切換）
樣品觀察	高解析彩色CCD鏡頭
濾波器	自動切換
樣品室	370(W)×320(D)×120(H) mm
儀器尺寸	520(W)×600(D)×445(H) mm
重量	60Kg（不含電腦及螢幕）
定量分析功能	■ RoHS有害物質分析 ■ 無鹵規範有害物質分析 ■ EN71-3有害物質分析 ■ 電鍍膜厚測定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析檢量線法 ■ HS快速分析模式
定性分析功能	■ 元素分析 ■ 能譜比對 ■ 元素自動辨別比對
標準配件	■ EA 系列專用桌上型Dell電腦（含液晶螢幕、滑鼠、鍵盤） ■ RoHS塑料有害物質標準品（日本國家一級認證單位Jab認證） ■ 儀器硬體確認片一組（含強度、能量、解析度及光徑校正） ■ 樣品杯 ■ 樣品杯用測試薄膜
可加購選項	■ 12個樣品自動轉盤 ■ 環境限制用標準物質（無鹵、EN71-3、Sb銻、Sn錫、P磷、S硫） ■ 金屬電鍍膜厚標準品 ■ 油壓機與製錠機
設置需求	建議桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用電源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA