嘉富亿 HITACHI EA1000VX

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「Vortex SDD」多阴极硅半导体检测器
•　 SEM-EDS（扫描式电子显微镜）所专用的讯号接收
　　检测器
•　日立高新（Hitachi high-tech）专利
•　绝佳分辨率、再现性与高灵敏度

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独家专利的Vortex SDD多阴极硅半导体检测器

Hitachi high-tech 日立高新独家专利，使用最大1,000,000cps的超高计数率Vortex检测器，实现高灵敏度、高精度、耗时短的三大优势。相较于EA1000AⅢ，检测时间缩短近40%，可提高每日测样数量。

SEM-EDS（扫描式电子显微镜）所专用的讯号接收检测器

实现高计数率、高分辨率与小光圈高感度

分析结果由系统自动储存并归纳，透过直观简易的接口，更可汇整出完整的有害物质分析总表，并由系统绘制个别供货商的有害物质趋势分析图表

内建多种材质数据库，可依材质的背景值不同，由系统自动选定分析条件，减少人为因素所造成的误判

依照图谱与分析线的位置关系，协助操作者进行分析线自动切换的辅助功能

键入有害物质管制上下限值，可由系统自动精算标准偏差，精确停止多余的分析时间

透过仪器的指示音提醒与进度指示灯来掌握测量的进度

具备形状、厚度与材质等Hitachi high-tech science（日立高新）专利补正技术

1、3、5mm三种X光照射光径，增加测试需求的弹性

透过12个样品自动进样器，以提高测试效率

多种语系（包含繁中/简中/英文/日文/韩文）支持的操作接口，一个按钮即可完成报告输出，功能操作简易，仅需三个步骤即可完成测试。

随机配备「日本国家一级认证单位Jab」所认证的RoHS（Cd、Pb、Hg、Br、Cr）有害物质标准品与仪器硬件调校试片一组，可提供各国际大厂所要求的有害物质标准品，包含氯（Cl）、锑（Sb）、锡（Sn）、硫（S）、磷（P）等。

金属电镀膜厚量测分析

合金牌号鉴定

项目	规格
产地	日本
测定元素范围	铝（Al13）～铀（U92）
样品型态	固体、液体、粉末皆可
X射线源	管电压： 15 kV、40 kV、50 kV（可调式）管电流：1mA（10～1000μA自动调整最适电流输出）
X射线照射方向	下方垂直照射型
检测器	Vortex SDD（Hitachi专利，多阴极硅半导体检测器）
冷却方式	电子冷却（不需液态氮）
准直器（分析区域）	1、3、5 mmφ（自动切换）
样品观察	高解析彩色CCD镜头
滤波器	自动切换
样品室	370(W)×320(D)×120(H) mm
仪器尺寸	520(W)×600(D)×445(H) mm
重量	60Kg（不含计算机及屏幕）
定量分析功能	■ RoHS有害物质分析 ■ 无卤规范有害物质分析 ■ EN71-3有害物质分析 ■ 电镀膜厚测定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析检量线法 ■ HS快速分析模式
定性分析功能	■ 元素分析 ■ 能谱比对 ■ 元素自动辨别比对
标准配件	■ EA 系列专用桌上型Dell计算机（含液晶屏幕、鼠标、键盘） ■ RoHS塑料有害物质标准品（日本国家一级认证单位Jab认证） ■ 仪器硬件确认片一组（含强度、能量、分辨率及光径校正） ■ 样品杯 ■ 样品杯用测试薄膜
可加购选项	■ 12个样品自动转盘 ■ 环境限制用标准物质（无卤、EN71-3、Sb锑、Sn锡、P磷、S硫） ■ 金属电镀膜厚标准品 ■ 油压机与制锭机
设置需求	建议桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用电源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA

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