嘉富亿 HITACHI EA1400

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•　全新专利设计，高解析、高计数率SDD检测器
•　综合多种分析领域高阶桌上型XRF
•　搭配真空系统，全面提升元素测试感度

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高灵敏度且快速分析

与以往机型相比，提高2倍以上的灵敏度。范例为黄铜中含镉（Cd）感度分析：

使用超高计数率新型专利SDD检测器，实现高灵敏度、高精度的快速测量

不规则表面所产生的光线折射率，因全新设计的机构而降低分析所导致的误差

多种语系（包含繁中/简中/英文/日文/韩文）支持的操作接口

操作简易，仅需三个步骤即可完成测试

强大的报告输出功能，仅需一个按钮即可完成报告生成

同步结合真空与自动进样两大硬件系统

标准配备RoHS标准品与仪器硬件调校试片

除RoHS指令的限制对象元素（Cd、Pb、Hg、Br、Cr）以外，并开发制造常用标准物质，包含氯（Cl）、锑（Sb）和锡（Sn）供选购

项目	规格
产地	日本
测定元素范围	铝（Al13）～铀（U92），大气环境钠（Na11）～铀（U92），真空环境
样品型态	固体、液体、粉末
X射线源	X射线管（Rh靶）管电压： 15 kV, 50 kV（可调式）管电流：1mA（10~1000µA，自动调整最适电流输出）
X射线照射方向	下方垂直照射型
检测器	新式专利SDD硅半导体检测器
冷却方式	电子冷却（不需液态氮）
准直器（分析区域）	1、3、5 mmΦ（自动切换）
样品观察	高分辨率彩色CCD镜头
滤波器	5种模式（自动切换）
样品室	304(W)×304(D)×110(H) mm
仪器尺寸	520(W)×600(D)×445(H) mm
重量	69Kg（不含计算机）
定性分析功能	■ 元素分析 ■ 能谱比对 ■ 数据库自动辨别比对
定量分析功能	■ RoHS有害物质分析 ■ 无卤规范有害物质分析 ■ EN71-3有害物质分析 ■ 金属电镀膜厚测定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析检量线法 ■ HS快速分析模式
标准配件	■ 桌面计算机（含屏幕、鼠标、键盘） ■ RoHS有害物质标准品（日本JAB一级认证标准品） ■ 仪器硬件确认试片（含强度、能量、分辨率及X光径） ■ 专用样品杯 ■ 专用测试薄膜
选配	■ 转盘型自动进样器 ■ 多种环境限制用标准物质（无卤、EN71-3、膜厚、锑Sb、锡Sn、磷P、硫S） ■ 金属膜厚标准品
设置需求	建议桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用电源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA

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