- 型号:FT110A
- 品名:X射线镀层厚度量测仪 Desktop XRF
效率、性能与价格,三大优势同步
• 3秒钟完成一笔测试
• 10秒钟即可完成50nm薄金(Au)金属电镀膜厚分析
• 相比他牌与过往机种,价格降低20%以上
金属电镀产业与生产现场最佳量测工具
• 高分辨率CCD镜头模块
• 影像自动对焦与高度自动定位系统
• 广域(狭域)观察系统
• 大型印刷电路板专用平台
• 日本日立(Hitachi)专业金属电镀膜厚分析团队与多种数据库系统支持
金属电镀产业与生产现场最佳量测工具
高分辨率CCD镜头模块
影像自动对焦
「亮度调整」 「对焦前」 「自动对准焦距」
高度自动定位系统
广域(狭域)观察系统
大型印刷电路板专用平台
日本日立(Hitachi)专业金属电镀膜厚分析团队与多种数据库系统支持
同时五层膜厚与10元素合金镀层分析,并内建材质密度修正功能,提高分析精准度。
多种参数修正与基础合金数据库
项目 | 规格 |
---|---|
产地 | 日本 |
测定元素范围 | 钛(22Ti)~铋(83Bi) |
样品型态 | 固体、液体皆可 |
X射线源 | 管电压: 50 kV 管电流:1mA(40~1000μA自动调整最适电流输出) |
X射线照射方向 | 上方垂直照射型 |
检测器 | 高强度正比例计数器 |
冷却方式 | 电子冷却(不需液态氮) |
准直器(分析区域) | 0.1、0.2 mmφ(自动切换) |
样品观察 | 高解析彩色CCD镜头 |
样品最大可分析范围 | 【固定】535×530 mm 【电动】260 mm x 210 mm(移动量250 mm (X);200 mm (Y)) 【样品最大高度】150 mm |
仪器尺寸 | 600 (W) × 815 (D) × 675 (H) mm |
扫描分析功能 | ■ 自动样品平台 ■ 高解析彩色CCD镜头 ■ 广域(狭域)观察系统 ■ 雷射自动对焦系统 ■ 扫描路径纪录系统 |
定性分析功能 | ■ 元素分析 ■ 能谱比对 |
定量分析功能 | ■ 电镀膜厚测定 ■ 薄膜分析检量线法(可针对单层、双层或是多元合金单层膜厚) ■ 薄膜分析FP法(最高一次分析五层) |
标准配件 | ■ FT系列专用桌上型Dell计算机(含液晶屏幕、鼠标、键盘) ■ 数据统计处理系统 ■ 仪器硬件确认片一组(含强度、能量、分辨率及光径校正) |
可加购选项 | ■ 微小准直器0.05、0.025 × 4 mmφ ■ 操作游戏杆 ■ 大型印刷电路板专用平台 ■ 金属电镀膜厚标准品 ■ 油压机与制锭机 |
设置需求 | ■ 建议桌面尺寸:1500 (W) × 1000 (D) mm ■ 使用电源:AC100~240V(50~60Hz)/400VA |
分类 | 标题 | 日期 |
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