- 型号：FT160 Series
- 品名：X射线镀层厚度量测仪 Desktop XRF
高端技术结合
• 多毛细管聚焦式X射线管（Polycapillary）与高计数率
硅飘移SDD检测器的绝佳搭配
• 微米等级高分辨率影像观察系统
• 轻易应对各种产业需求
高优化操作接口
• 测量导航窗口
• 兼顾操作与安全的设计
高阶技术结合
多毛细管聚焦式X射线管（Polycapillary）与日立专利高计数率硅飘移SDD检测器的绝佳搭配。「30μmφ（FWHM：17μm）」有效提高两倍以上分析灵敏度。
高优化操作接口
以图示呈现测量方法、测量样品照片、镀层信息，一目了然的操作接口。测量导航窗口，逐步引导操作者测量步骤。
安全防护设计
采用密封快壳，完全避免辐射危险
| 型号 | FT160S | FT160Sh | FT160 | FT160h | FT160L | FT160Lh |
|---|---|---|---|---|---|---|
| X光管 | 标准 | 高能量 | 标准 | 高能量 | 标准 | 高能量 |
| Mo靶 | W靶 | Mo靶 | W靶 | Mo靶 | W靶 | |
| 测定元素范围 | 铝（13Al）～铀（92U） | |||||
| 样品平台（mm) | 300（宽）＊245（深） | 420（宽）＊320（深） | 620（宽）＊620（深） | |||
| 可测量样品尺寸（mm） | 300（X）＊245（Y）＊80（Z） | 400（X）＊300（Y）＊100（Z） | 600（X）＊600（Y）＊20（Z） | |||
| 分类 | 标题 | 日期 |
|---|
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