【新品發表】高速整機掃描機種－EA6000VX－全新發售！
RoHS有害物質快速篩選檢測專用的能量分散型螢光X射線分析儀（ED-XRF），以常見的構造來說，X光源僅能進行單點式的照射（如圖一），X光源能照射到的樣品面積最大直徑10mm，若樣品直徑大於10mm，則需多次移動樣品位置以進行分析，較耗費時間與人力；若產品各部位組成不同或想進行全面性檢測，建議可考慮掃描式的能量分散型螢光X射線分析儀（ED-XRF），透過電動平台的自動移動，X光源可連續照射不同區域的樣品，再經由檢測器連續接受不同區域樣品所發出的訊號，即可自動輸出掃描圖像及測試結果。
日本日立EA6000VX搭載世界最高級的高計數率檢測器（Vortex電子冷卻式矽半導體多陰極檢測器），可快速接收樣品所發出的訊號，因此能在最短時間內快速掃瞄樣品。若欲進行50個外型相同的塑膠粒子溴（Br）含量分析，以單點照射式的ED-XRF，需進行50次的測試，若以一個樣品需花費100秒分析，總共需耗費5,000秒（83分鐘）；而EA6000VX則僅需3分鐘即可快速掃瞄全部樣品的溴（Br）含量分佈情況（如圖二）。
若樣品面積較大且組成不均勻時，以單點照射式的ED-XRF進行分析時，不僅需依據不同材質分別進行檢測，若該測試材質面積太小時，X光源還有可能照射到鄰近區域造成干擾，進而影響測試結果；而EA6000VX則可進行整片樣品的快速掃瞄並得到樣品元素分佈圖像（如圖三）。
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