嘉富億科技股份有限公司-X射線螢光分析儀(XRF),膜厚儀,RoHS2.0

採用最新技術光學系統，具高靈敏度、更寬動態分析範圍以及不帶有暗電流等尖端設計，廣泛應用於大型金屬鑄造廠、汽車、航空、家用等各種製造產業。其高精密度的分析優勢，更可應用於ASTM、DIN、JIS等各國金屬材料組織實驗室認證，為金屬材料分析的最佳利器。