- 型號：EA1000AIII
- 品名：桌上型X射线荧光分析仪 Desktop XRF
欧盟RoHS有害物质最佳机型
材料材质自动辨别系统
多功能便捷智能管理系统
• HS Easy 2.0
• 数据库汇整
• 供货商风险趋势管理
• Data base分析数据自动化储存
• 配有多种材质数据库之材料自动辨识系统
• 元素分析线自动切换提醒判别功能
• 分析时间精度管理
RoHS有害物质最佳机型
- 多功能便捷智能管理系统HS Easy 2.0，检测时间缩短并加强多种数据自动化处理功能
- 高灵敏电子数字式硅半导体检测器缩短检测时间达3成以上
- 简单优异的操作功能
- 多种环境限制用标准物质可追溯
- 多样化量测分析，仪器多功能应用
HS Easy 2.0 管理系统
分析结果由系统自动储存并归纳，透过直观简易的接口，更可汇整出完整的有害物质分析总表，并由系统绘制个别供货商的有害物质趋势分析图表
内建多种材质数据库，可依材质的背景值不同，由系统自动选定分析条件，减少人为因素所造成的误判
依照图谱与分析线的位置关系，协助操作者进行分析线自动切换的辅助功能
键入有害物质管制上下限值，可由系统自动精算标准偏差，精确停止多余的分析时间
高灵敏电子数字式硅半导体检测器
- 整合元素讯号控制系统和检测器，减少元素讯号转换时间，检测时间至少可缩短旧有机型1/3
- 低电流、高强度，有效提升分辨率与分析灵敏度
优异的操作功能
透过仪器的指示音提醒与进度指示灯来掌握测量的进度
具备形状、厚度与材质等Hitachi high-tech science（日立高新）专利补正技术
1、3、5mm三种X光照射光径，增加测试需求的弹性
透过12个样品自动进样器，以提高测试效率
多种语系（包含繁中/简中/英文/日文/韩文）支持的操作接口，一个按钮即可完成报告输出，功能操作简易，仅需三个步骤即可完成测试。
多种环境限制用标准物质
随机配备「日本国家一级认证单位Jab」所认证的RoHS（Cd、Pb、Hg、Br、Cr）有害物质标准品与仪器硬件调校试片一组，可提供各国际大厂所要求的有害物质标准品，包含氯（Cl）、锑（Sb） 、锡（Sn）、硫（S）、磷（P）等。
多元化量测分析应用
- 金属电镀膜厚量测分析
- 合金牌号鉴定
| 项目 | 规格 |
|---|---|
| 产地 | 日本 |
| 测定元素范围 | 铝（Al13）～铀（U92） |
| 样品型态 | 固体、液体、粉末皆可 |
| X射线源 | 管电压： 15 kV、40 kV、50 kV（可调式） 管电流：1mA（10～1000μA自动调整最适电流输出） |
| X射线照射方向 | 下方垂直照射型 |
| 检测器 | 电子数字式硅半导体检测器 |
| 冷却方式 | 电子冷却（不需液态氮） |
| 准直器（分析区域） | 1、3、5 mmφ（自动切换） |
| 样品观察 | 高解析彩色CCD镜头 |
| 滤波器 | 自动切换 |
| 样品室 | 370(W)×320(D)×120(H) mm |
| 仪器尺寸 | 520(W)×600(D)×445(H) mm |
| 重量 | 60Kg（不含计算机及屏幕） |
| 定量分析功能 | ■ RoHS有害物质分析 ■ 无卤规范有害物质分析 ■ EN71-3有害物质分析 ■ 电镀膜厚测定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析检量线法 ■ HS快速分析模式 |
| 定性分析功能 | ■ 元素分析 ■ 能谱比对 ■ 元素自动辨别比对 |
| 标准配件 | ■ EA 系列专用桌上型Dell计算机（含液晶屏幕、鼠标、键盘） ■ RoHS塑料有害物质标准品（日本国家一级认证单位Jab认证） ■ 仪器硬件确认片一组（含强度、能量、分辨率及光径校正） ■ 样品杯 ■ 样品杯用测试薄膜 |
| 可加购选项 | ■ 12个样品自动转盘 ■ 环境限制用标准物质（无卤 、EN71-3、Sb锑、Sn锡、P磷、S硫） ■ 金属电镀膜厚标准品 ■ 油压机与制锭机 |
| 设置需求 | 建议桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用电源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA |
| 分類 | 標題 | 日期 |
|---|
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