• Model:FT160 Series
  • Product:X射線鍍層厚度量測儀 Desktop XRF

高端技術結合
  • 多毛細管聚焦式X射線管(Polycapillary)與高計數率
  矽飄移SDD檢測器的絕佳搭配
  • 微米等級高解析度影像觀察系統
  • 輕易應對各種產業需求

高優化操作介面
  • 測量導航視窗
  • 兼顧操作與安全的設計

高階技術結合


多毛細管聚焦式X射線管(Polycapillary)與日立專利高計數率矽飄移SDD檢測器的絕佳搭配。「30μmφ(FWHM:17μm)」有效提高兩倍以上分析靈敏度。

  

 

 

高優化操作介面


以圖示呈現測量方法、測量樣品照片、鍍層資訊,一目了然的操作介面。測量導航視窗,逐步引導操作者測量步驟。

 

 

安全防護設計


採用密封快殼,完全避免輻射危險

型號 FT160S FT160Sh FT160 FT160h FT160L FT160Lh
X光管 標準 高能量 標準 高能量 標準 高能量
Mo靶 W靶 Mo靶 W靶 Mo靶 W靶
測定元素範圍 鋁(13Al)~鈾(92U)
樣品平台(mm) 300(寬)*245(深) 420(寬)*320(深) 620(寬)*620(深)
可測量樣品尺寸(mm) 300(X)*245(Y)*80(Z) 400(X)*300(Y)*100(Z) 600(X)*600(Y)*20(Z)

Classification Title Date