- Model:FT160 Series
 - Product:X射線鍍層厚度量測儀 Desktop XRF
 
高端技術結合
  • 多毛細管聚焦式X射線管(Polycapillary)與高計數率
  矽飄移SDD檢測器的絕佳搭配
  • 微米等級高解析度影像觀察系統
  • 輕易應對各種產業需求
高優化操作介面
  • 測量導航視窗
  • 兼顧操作與安全的設計
高階技術結合
多毛細管聚焦式X射線管(Polycapillary)與日立專利高計數率矽飄移SDD檢測器的絕佳搭配。「30μmφ(FWHM:17μm)」有效提高兩倍以上分析靈敏度。
  
高優化操作介面
以圖示呈現測量方法、測量樣品照片、鍍層資訊,一目了然的操作介面。測量導航視窗,逐步引導操作者測量步驟。

安全防護設計
採用密封快殼,完全避免輻射危險

| 型號 | FT160S | FT160Sh | FT160 | FT160h | FT160L | FT160Lh | 
|---|---|---|---|---|---|---|
| X光管 | 標準 | 高能量 | 標準 | 高能量 | 標準 | 高能量 | 
| Mo靶 | W靶 | Mo靶 | W靶 | Mo靶 | W靶 | |
| 測定元素範圍 | 鋁(13Al)~鈾(92U) | |||||
| 樣品平台(mm) | 300(寬)*245(深) | 420(寬)*320(深) | 620(寬)*620(深) | |||
| 可測量樣品尺寸(mm) | 300(X)*245(Y)*80(Z) | 400(X)*300(Y)*100(Z) | 600(X)*600(Y)*20(Z) | |||
| Classification | Title | Date | 
|---|
                            
                                        
                                        
                        
                        
                        
        
                
                
                
                
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