- Model：EA1200VX
- Product：桌上型X射線螢光分析儀 Desktop XRF
多方位分析應用高階桌上型XRF（X射線螢光分析儀）
• 高精密度成份分析
• RoHS有害物質分析
• 材料中的主成份或微量成份分析效果極佳
• 金屬電鍍膜厚測試
• 可對應環境、油品、古物及藝術等不同領域分析需求
「Vortex SDD」多陰極矽半導體檢測器
• SEM-EDS（掃描式電子顯微鏡）所專用的訊號接收
檢測器
• 日立高新（Hitachi high-tech）專利
• 絕佳解析度、再現性與高靈敏度
Vortex SDD多陰極矽半導體檢測器
日立高新（Hitachi high-tech）專利使用，SEM-EDS（掃描式電子顯微鏡）所專用的訊號接收檢測器，與過往機型相比，提高至少15倍的靈敏度。
絕佳解析度、再現性與高靈敏度
多方位分析應用高階桌上型XRF（X射線螢光分析儀）
可應用真空狀態高精密度成份分析，材料中的主成份或微量成份分析效果極佳，擁有大型樣品室與真空系統，能應用在各種樣品分析。
EA1200VX vs. ICP-OES無鉛銲錫分析比較的數據，差異甚小，可以說是以最簡單的檢測方式達到好的分析效果。
EA1200VX vs. FT9500高效能電鍍膜厚分析比較的數據，差異不大，此儀器的應用層面很廣，能夠執行很多方面的檢測。
「EA1200VX」 「FT9500」
大型樣品室與樣品自動進樣器，提高測試彈性。
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 產地 | 日本 |
| 測定元素範圍 | 鈉（Na11）～鈾（U92） |
| 樣品型態 | 固體、液體、粉末皆可 |
| X射線源 | 管電壓：15 kV、30kV、40 kV、50 kV（可調式） 管電流：1mA（10～1000μA自動調整最適電流輸出） |
| X射線照射方向 | 斜下方照射型 |
| 檢測器 | Vortex SDD（Hitachi專利，多陰極矽半導體檢測器） |
| 冷卻方式 | 電子冷卻（不需液態氮） |
| 準直器（分析區域） | 1、8 mmφ（自動切換） |
| 樣品觀察 | 高解析彩色CCD鏡頭 |
| 濾波器 | 自動切換 |
| 樣品室 | 430(W)×320(D)×195(H) mm |
| 儀器尺寸 | 580(W)×650(D)×513(H) mm |
| 重量 | 95Kg（不含電腦及螢幕） |
| 定量分析功能 | ■ 微量元素成份定量分析 ■ RoHS有害物質分析 ■ 無鹵規範有害物質分析 ■ EN71-3有害物質分析 ■ 電鍍膜厚測定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析檢量線法 ■ HS快速分析模式 |
| 定性分析功能 | ■ 微量元素成份定性分析 ■ 元素分析 ■ 能譜比對 ■ 元素自動辨別比對 |
| 標準配件 | ■ EA 系列專用桌上型Dell電腦（含液晶螢幕、滑鼠、鍵盤） ■ RoHS塑料有害物質標準品（日本國家一級認證單位Jab認證） ■ 儀器硬體確認片一組（含強度、能量、解析度及光徑校正） ■ 樣品杯 ■ 樣品杯用測試薄膜 |
| 可加購選項 | ■ 真空系統 ■ 12個樣品自動轉盤 ■ 3mmφ準直器 ■ 環境限制用標準物質（無鹵 、EN71-3、Sb銻、Sn錫、P磷、S硫） ■ 金屬電鍍膜厚標準品 ■ 油壓機與製錠機 |
| 設置需求 | 建議桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用電源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA |
| Classification | Title | Date |
|---|
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