【新品發表】HITACHI新一代高階XRF機種EA1400－強勢推出
HITACHI新一代EA系列桌上型XRF—EA1400強勢推出！
自2013年01月 日本精工電子奈米科技有限公司（SII NanoTechnology Inc.）正式更名為株式會社日立高新技術科學公司（Hitachi High-Tech Science Corporation，簡稱日立高新）至今，Seiko SEA series Desktop XRF也正式更名為Hitachi EA series Desktop XRF，並透過日本日立多方的先進技術整合，為Hitachi EA series Desktop XRF帶來全新的面貌與強大的元素及材料分析功能。今年，日立高新隆重推出適用於各種元素成分分析及材料鑑識分析的高階XRF機種—EA1400！
優化內部機構，有效提升分析效率
Hitachi EA series Desktop XRF一別以往，首先針對內部的機構進行再優化，將X-Ray Tube的入射角度由斜角入射方式，調整為垂直入射方式，使X光照射分布的強度更均勻，當進行不規則形狀樣品的量測時，除了提升測試的精準度外，更能有效降低傳統斜照式設計可能造成的分析數據誤差。
圖1、X-Ray Tube的入射角度改變
表一、新設計即使測試各種不同顆粒數的樣品，也能得到極佳的精確度。
核心零件的垂直整合—最新專利技術Hitachi SDD偵測器
圖2、最新專利技術Hitachi SDD偵測器
XRF在之前偵測系統的設計上，除了透過Detector來進行訊號接收外，需再透過外部的訊號控制板或訊號控制盒來進行訊號的處理，再轉換為數位圖譜來執行測試結果的分析；Hitachi EA series Desktop XRF儀器中的兩大訊號控制系統垂直整合，縮減訊號處理轉換的時間，提升檢測分析的效能，成功推出最新專利的—Hitachi SDD偵測器，明顯提升新一代機型EA1400在材料元素分析時的訊號強度以及偵測靈敏度。
優異的材料鑑定與異物分析能力
新一代的EA1400，除了對於應用在RoHS的有害物質分析上有優異的表現外，對於材料鑑定以及材質異物分析等應用，更是該EA1400機台的特點，例如：
材料中不規則狀汙染物的分析應用
圖3、左圖為異物利用1mm光鏡的實際測量位置；右圖為分析鑑識的元素圖譜。
利用1mm小光徑進行小範圍汙染物的分析，透過EA1400的優異分析能力，能快速精準地鑑識汙染物的元素種類及含量，對於材質分析鑑識應用，是極佳的分析工具。
稀有貴金屬的成分分析
在貴金屬的飾品中，經常會添加銅（Cu）與鈀（Pd）來改變其色澤與硬度，貴金屬的純度、成分與其價格與價值息息相關，透過新一代EA1400精確地分析表現，能提供人員在採購或是銷售驗證上，對於這些稀有貴金屬價值的有利判定依據。
圖4、新一代EA1400不管對於K金或是鉑金等貴金屬都能精準分析其成分。
有害物質分析分析能力再提升
儀器對於元素的偵測下限愈低，代表儀器的靈敏度及偵測能力愈佳，新一代的EA1400對於RoHS有害物質元素的分析，具有極低的偵測下限以及優異偵測能力，無論針對PE、PVC塑料、鋁合金、黃銅、鋼材或銲錫…各種材質的有害物質元素分析，都有極低的檢測下限，能精準地協助使用者快速篩檢產品，為品質把關。
多家國際大廠指定採用
新一代的EA1400推出不久，已經獲得許多國際大廠指定採用，嘉富億配合日本日立策略，備有展示機，隨時提供客戶進行測試及驗證，相關的產品訊息，歡迎上嘉富億的產品官網，或來電洽詢，由專人為您提供詳細的產品介紹。
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