【XRF】從選配到基本,XRF的無鹵測試功能
自環保意識抬頭、國際間各大廠開始導入無鹵材料起至今,對材料中相關元素的控管已行之有年;在XRF的各項運用中,無鹵量測的功能也從當初的選配功能,逐漸被視為基礎的必須項目之一。為此,日本日立桌上型X射線螢光分析儀(Desktop XRF)於機種更迭中,無論在軟、硬體上皆持續地針對最佳化無鹵量測的表現進行改善。
相較於同樣廣泛使用的五項有害物質(鎘、鉛、汞、總溴、總鉻)測量,氯元素因為能量低,更容易受到空氣的干擾而損失強度、且分析線所處的位置亦會受到空氣中氬氣的波峰干擾。為改善此現象,儀器於進階機種EA1200VX起將光管的照射角度由斜角改變為垂直方向,除了使照射強度更平均外,更以此縮短X-Ray Tube與受測樣品之間的距離,降低充氣環境下空氣對強度的影響。
進階機種也有選配真空功能,藉由真空幫浦將樣品室中的空氣抽出,避免檢測氯時被空氣中的氬所干擾的問題。
EA1200VX起也追加有氯用濾波器,可以降低包含在氯內的低能量波段的背景雜訊,使氯的分析效果更好。
於三代機種EA1000AIII起,不僅延續了照射角度與濾波器的更動,軟體方面也針對氯的計算追加了新的補正選項,若待測樣品的結構越理想(即拆分至最小單位、測量表面盡可能平整),新的補正選項對散亂線的補正則越有效,對氯的測量數值也能更加精確。
直至今年推出的新一代高階機種EA1400,導入最新專利技術的Hitachi SDD偵測器,除了擁有更低的檢測下限以外,其更優越的解析度可將氯的Kb分析線自氬的波峰中分離出來,有效改善以往受到氬元素的波峰干擾的問題。
軟體方面,EA1400的性能配合改良後的補正演算,可涵蓋過去既有選項,不須再為樣品適合何種補正選項而煩惱。
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