【XRF】提升玻璃材料品質檢控效率:桌上型XRF的成分分析方案

玻璃材料常被視為「純淨」且「無雜質」的工業材料,但實際生產中,其成分的微小變化都可能影響透明度、耐熱性、化學穩定性與產品可靠度。因此,在光電、建材、家電、化工、環境監測等領域,使用桌上型XRF(如:EA1400)快速掌握玻璃成分組成,已成為品質管理的重要工具。本篇內容將介紹玻璃樣品使用XRF分析時的條件考量、可量測的元素/化合物範圍,以及典型的檢測應用案例。
 

玻璃材料為何需要XRF?

玻璃主要由二氧化矽SiO2、氧化鈉Na2O、氧化鈣CaO、氧化鋁Al2O3等成分構成,但製程中的氧化物比例只要略有不同,就可能影響其硬度、色澤、耐熱衝擊性甚至產品可靠度。此外,部分玻璃製品(如:建築玻璃、保溫玻璃、光學玻璃、電子面板玻璃)需要嚴格控制重金屬含量,以符合RoHS或其他環保法規。桌上型XRF具備非破壞、快速分析及多元素同時量測的優勢,因此成為玻璃材料分析常用的技術之一。


在XRF上的實際應用與條件考量

  • 量測位置與樣品厚度:玻璃若太薄可能影響訊號強度,通常建議厚度至少約1mm以上,以確保量測穩定。
  • 表面狀態影響:平滑表面有助於提升量測重現性;有色玻璃(含鐵Fe、鉻Cr、鈷Co等元素)需考慮吸收效應。
  • 重金屬檢測:桌上型XRF可快速篩檢鉛Pb、鎘Cd、鎘Cr、砷As、銻Sb、鋇Ba等元素,並作為RoHS有害物質的初步檢測工具。
  • 校正標準物質的重要性:使用含鉛Pb、鎘Cd、溴Br、鎘Cr等不同濃度標準的玻璃標準物質,可建立可靠的校正曲線,提升分析準確度。


產業應用案例

  • 建築與汽車玻璃:分析鈉Na、鈣Ca、鋁Al等元素比例並檢測鋁Pb、鎘Cd等限制物質。
  • 電子面板玻璃:分析鐵Fe、鈷Co、鎳Ni等微量元素,以避免光學異色或品質問題。
  • 玻璃包材:檢測是否含有重金屬元素,確保符合食品或化工產品的安全標準。


EA1400在輕元素分析的突破

日本日立高新所推出的桌上型高階XRF EA1400在鈉Na、鎂Mg的檢測效能比起過往機種的XRF效能更加精準。


能譜表現比較:EA1400 v.s 舊型機種

從圖一中能譜展示中可清楚看見,EA1400在鈉Na與鎂Mg的波峰強度顯著高於舊款機種,這代表EA1400擁有更高的靈敏度與更低的偵測下限。

圖一:EA1400與舊型機種之波峰強度差異比較


實測數據驗證

以下為EA1400在真空狀態下,量測「玻璃標準品」(如圖二)與「其他玻璃樣品」(如圖三)的數據結果。從表一與表二所呈現的數據可知,實測值與標準值具有極高的吻合度。

圖二:玻璃標準品
 

玻璃標準品 玻璃標準品在EA1400量測結果(真空狀態)
化合物/元素 濃度值(wt%) 化合物/元素 濃度值(wt%) 差異(wt%)
SiO2 72.08 SiO2 70.45 -1.63
Na2O 14.39 Na2O 14.61 0.22
CaO 7.11 CaO 6.57 -0.54
MgO 3.69 MgO 4.41 0.72
Al2O3 1.8 Al2O3 3.05 1.25
K2O 0.41 K2O 0.38 -0.03
S1O3 0.28 S1O3 0.33 0.05
As2O3 0.056 As2O3 0.07 0.02
Fe2O3 0.043 Fe2O3 0.05 0.01
TiO2 0.018 TiO2 0.01 -0.01
Cd 0.00 Cd 0.00 0.00
Pb 0.00 Pb 0.00 0.00
Hg 0.00 Hg 0.00 0.00
Br 0.00 Br 0.00 0.00
Cr 0.00 Cr 0.00 0.00

表一:玻璃標準品透過XRF量測結果(真空狀態)

 

圖三:其他玻璃樣品
 

玻璃標準品 其他玻璃樣品在EA1400量測結果(真空狀態)
化合物/元素 濃度值(wt%) 化合物/元素 濃度值(wt%) 差異(wt%)
SiO2 72.08 SiO2 70.70 -1.38
Na2O 14.39 Na2O 14.67 0.28
CaO 7.11 CaO 6.58 -0.53
MgO 3.69 MgO 4.47 0.78
Al2O3 1.8 Al2O3 2.56 0.76
K2O 0.41 K2O 0.34 -0.07
S1O3 0.28 S1O3 0.41 0.13
As2O3 0.056 As2O3 0.08 0.02
Fe2O3 0.043 Fe2O3 0.05 0.01
TiO2 0.018 TiO2 0.00 -0.02
Cd 0.00 Cd 0.00 0.00
Pb 0.00 Pb 0.00 0.00
Hg 0.00 Hg 0.00 0.00
Br 0.00 Br 0.00 0.00
Cr 0.00 Cr 0.00 0.00

表二:其他玻璃樣品透過XRF量測結果(真空狀態)


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