訊息分類

知識文庫
- 電子報
  - HM1000A
  - RoHS
  - XRF
  - 有害物質法規
  - 輻射防護
  - 其他
- Q&A
最新消息
- 公告
- 活動
- 商品
- 應用實例
- 法規

訊息搜尋

【XRF軟體】XRF應用於膜厚樣品分析

膜厚量測的原理是利用X射線的能量激發樣品中的金屬元素，使樣品中的元素產生特性X射線，通過檢測器檢測到螢光的數目來計算金屬鍍層的厚度。距離表面越深的部分，其產生的特性X射線越少；而越接近表面的元素，其特性X射線則越多，依照此原依照此原理，可畫出以下關係圖：

XRF_膜厚_鍍層_電鍍

故XRF透過檢測器分析不同元素的X射線強度，同時再配合XRF中的軟體，即可針對樣品進行鍍層厚度的計算，最多可以計算出含底材一共五層的鍍層厚度，分析數據達到um（micrometer）等級。

返回上一頁