嘉富億科技股份有限公司-X射線螢光分析儀(XRF),膜厚儀,RoHS2.0

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碳鋼、合金鋼中碳濃度分析專用，三秒內即可完成分析，是金屬/輕金屬分析的最佳選擇！

採用日立高新科技的最新專利SDD檢測器，垂直整合硬體系統，分析精度與速度比過往機種提升至少兩倍，以滿足RoHS有害物質與多方面的材料分析需求。

市占率超過五成的桌上型XRF，穩定性與性價比最佳，RoHS及材料主成份分析效能極高，操作簡單易上手。

創新高速掃描分析機種，可直接分析整機樣品、輕元素與微量元素分析、貴金屬鎳鈀金與複合層高精密金屬電鍍膜厚分析。

輕巧簡單且快速的量測方式，具備可攜帶特性，方便攜至現場檢驗。

金屬分析專用，三秒內即可完成分析，是金屬/輕金屬分析的最佳選擇！

結合高解析度穿透式影像分析、高倍數顯微鏡觀察與高靈敏度元素分析等多種分析系統，專用於鋰離子電池（LIB）品質分析。

延續EA系列穩定的設計，採用高階 Vortex SDD 檢測器，升級為高精度的桌上型XRF，應用層面更廣。

採用超高計數率Vortex SDD檢測器，為超高靈敏度高階機型。可選配真空系統，適用於精確度要求高的中央實驗室、系統廠及研發單位。