【RoHS】有害物質元素分析更新公告【IEC 62321-3-1：2026】
透過X射線螢光分析儀（ED-XRF），測定鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、總鉻（Cr）、總溴（Br）、總磷（P）、總氯（Cl）、總錫（Sn）和總銻（Sb）的元素含量最新改版。
隨著世界各國對於環境永續、產品安全與材料透明度的要求持續提升，國際電工委員會（IEC）於2026年05月06日正式發布新版 IEC 62321-3-1：2026《Determination of certain substances in electrotechnical products - Part 3-1： Screening by X-ray Fluorescence Spectrometry（XRF）》作為更新技術修訂，同時取代並廢止2013年所發布的 IEC 62321-3-1：2013 與 IEC 62321：2008 中的相關內容。
此次改版除延續RoHS有害物質篩檢相關要求之外，同時，X射線螢光分析儀（ED-XRF）規格技術的提升，也成為全球產品供應鏈在風險管理與材料檢驗中不可或缺的重要工具。
針對新版 IEC 62321-3-1：2026 的關鍵重點，嘉富億科技歸納以下重要資訊：
一、透過X射線螢光分析儀（ED-XRF），測定新增四項指標性元素（Indicator Elements）
| 元素 | IEC 62321-3-1：2013 （舊版） |
IEC 62321-3-1：2026 （新版） |
| 鉛（Pb） | ✓ | ✓ |
| 汞（Hg） | ✓ | ✓ |
| 鎘（Cd） | ✓ | ✓ |
| 總鉻（Cr） | ✓ | ✓ |
| 總溴（Br） | ✓ | ✓ |
| 總磷（P） | – | ✔ |
| 總氯（Cl） | – | ✔ |
| 總錫（Sn） | – | ✔ |
| 總銻（Sb） | – | ✔ |
※ X射線螢光分析儀（ED-XRF）屬於元素快篩工具，僅能測得元素總量，並無法測得其化學型態
- 總鉻（Cr）：仍無法區分三價鉻（Cr3+）或六價鉻（Cr6+）
- 總溴（Br）：仍無法判是是否屬於多溴聯苯（PBB）或多溴聯苯醚（PBDE）
- 總磷（P）：仍無法直接判定是否存在特定磷（P）化合物
- 總氯（Cl）：仍無法直接確認是否為短鏈氯化石蠟（SCCP）、三氯乙基磷酸酯（TCEP）或氯化三丁錫（TBTC）等特定氯（Cl）化合物
- 總錫（Sn）：仍無法直接判定是否存在特定有機錫（Sn）化合物
- 總銻（Sb）：仍無法直接判定是否存在特定銻（Sb）化合物
二、IEC 62321-3-1：2026 指標性元素（Indicator Elements）潛在物質風險
| 新增指標元素 | 潛在管制化合物風險 |
| 總磷（P） | 部分磷系阻燃劑 |
| 總氯（Cl） | 短鏈氯化石蠟（SCCP）、三氯乙基磷酸酯（TCEP）或 氯化三丁錫（TBTC）等含氯化合物 |
| 總錫（Sn） | 特定有機錫化合物 |
| 總銻（Sb） | 銻系阻燃材料或相關添加物 |
若元素快篩結果仍有異常，建議透過ICP、UV、GC/MS、LC/MS等精密分析工具或第三方公證單位做進一步分析。
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