嘉富億科技股份有限公司-X射線螢光分析儀(XRF),膜厚儀,RoHS2.0

產品搜尋

採用日立高新科技的最新專利SDD檢測器，垂直整合硬體系統，分析精度與速度比過往機種提升至少兩倍，以滿足RoHS有害物質與多方面的材料分析需求。

市占率超過五成的桌上型XRF，穩定性與性價比最佳，RoHS及材料主成份分析效能極高，操作簡單易上手。

創新高速掃描分析機種，可直接分析整機樣品、輕元素與微量元素分析、貴金屬鎳鈀金與複合層高精密金屬電鍍膜厚分析。

延續EA系列穩定的設計，採用高階 Vortex SDD 檢測器，升級為高精度的桌上型XRF，應用層面更廣。

採用超高計數率Vortex SDD檢測器，為超高靈敏度高階機型。可選配真空系統，適用於精確度要求高的中央實驗室、系統廠及研發單位。

面對日新月異的奈米級電鍍膜厚製程，提升5G製程所需的檢測效能。配備新開發的多毛細管聚焦式X射線管與高計數率矽飄移SDD檢測器，提高檢測效率，並強化分析靈敏度。

超越市面上多數儀器的規格，在價格上保有一定的市場競爭力，定位為電鍍產業與生產現場中最可靠、性價比最高的精密量測分析設備。